고상법을 이용한 YAG 합성

고상법을 이용한 YAG 합성

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목차 Ⅰ. Introduction Ⅱ. Procedure Ⅲ. Analysis Device 3.1 XRD(X-ray diffractometer) 3.1.1 X선 회절의 원리 3.1.2 X선 회절 장치 구성 3.1.3 분석방법 3.1.4 X-Ray Diffraction과 실험과의 관계 3.2 SEM (Scanning Electron Microscope) 3.2.1 SEM의 원리 3.2.2 SEM으로 얻을 수 있는 정보 3.2.3 SEM과 실험과의 관계 3.3 Photoluminescence 3.3.1 Luminescence의 원리 3.3.2 photoluminescence 장치 3.3.3 PL과 실험과의 관계 Ⅳ. Outro Ⅴ. Reference 본문 3.1.3 분석방법 측정된 XRD 데이터를 가지고 X축(2θ), Y축(강도)으로 그래프를 도식화 한다. 그래프 상의 peak의 위치(2θ)로 Bragg 각(θ)을 찾는다. 가장 강한 intensity를 가지는 3개의 peak의 Bragg각을 사용하여 면간거리(d)를 계 산한다. (2d sinθ = nλ) 3개의 면간거리를 JCPDS 데이터와 비교하여 시편의 물질을 찾는다. (물질을 이미 알고 있다면 JCPDS 데이터와 측정데이터를 바로 비교한다.) JCPDS에 있는 물질의 회절패턴 데이터와 측정데이터와 비교분석한다. 3.1.4 X-Ray Diffraction과 실험과의 관계 X-선 회절법은 결정성물질의 확인과 분석에 이용된다. 결정 중의 모든 원자들은 입사한 X-선을 모든 방향으로 산란시키는데, 산란된 X-선은 보강간섭 또는 상쇄간섭을 일으킬 수 있다. 보강간섭은 결정 내에서 원자들이 규칙적이면서 반복적인 방식으로 배열 되어있는 경우에 일어난다. 또한 결정으로부터 X-선이 회절 될 수 있는 조건은 Bragg's Law(2d sinθ = nλ)에 의해 주어진다. 회절 된 파장의 세기는 결정에서 원자들의 배열형태와 기본적인 반복단위, 즉 단위격자내의 원자들의 위치에 따라 결졍된다. 따라서 모든 회절파장의 방향과 세기를 고려할 때 회절파장이 절대적으로 같은 두 가지 물질은 존재하지 않고, 회절파장은 각 결정물질에 따라 고유하게 다르게 나타난다. 그러므로 회절파장은 결정성 화합물의 지문(finger print)이라 할 수 있으며, X-선 회절법은 YAG를 정성적으로 확인하는데 실질적이고 명확한 방법이 되는 것이다. 참고문헌 1 Photoluminescence Measurement and Its Operating Principles ,정중현, 1988 , 대한전자공학회 2 윤존도, "주사전자현미경 분석과 X선 미세분석", 청문각, 2005 3 조양구, "전자현미경의 개발과 응용", 화학세계, 2008.9 4 재료분석실험 ppt 5 http://blog.daum.net/natures/15718217 6 Synthesis and Sintering of YAG Powder by a Mechanochemical Solid-State Reaction - 鄭 賢 基 漢陽大學校 大學院 2007年 8月 7 http://en.wikipedia.org/wiki/Yttrium_aluminium_garnet 8 Massa W (2004). Crystal Structure Determination. Berlin: Springer. 9 Cullity B.D. (1978). Elements of X-Ray Diffraction (2nd ed.). Reading, Massachusetts: Addison-Wesley Publishing Company. 10 Zachariasen WH (1945). Theory of X-ray Diffraction in Crystals. New York: Dover Publications. 키워드 고상법, 합성, 이용